《闪烁体性能测量方法》国家标准征求意见

近日，由北京滨松光子技术股份有限公司起草， TC30(全国核仪器仪表标准化技术委员会)归口的国家标准计划《闪烁体性能测量方法》征求意见稿已编制完成，现公开征求意见。（注：买仪表，卖仪表就上仪表网！ 看资讯、查订单…一站式全搞定！）

本文件按照GB/T —2020《标准化工作导则 第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。本文件代替GB/T 13181—2002《闪烁体性能测量方法》，与GB/T 13181—2002相比，除结构调整和编辑性改动外，主要技术变化如下：

a) 术语和定义中，增加了“封装闪烁体”(见)、“[光输出的]不均匀性”(见)、“[闪烁体的]α-β比”(见)、“[闪烁体的] 余辉”(见)、“[闪烁体的]符合分辨时间”(见)、“[闪烁体的]辐射硬度”(见)、“[闪烁体的]自身辐射本底”(见)、“[闪烁体的]β-γ比”(见)、“[闪烁体的] n-γ比”(见)、闪烁体阵列(见)、“[闪烁体阵列的]不均匀性”(见)、“[闪烁体阵列的]光串扰”(见)；

(资料图)

b) 更改了部分术语和定义(见第3章，2002年版的第3章)；

c) 修改了对闪烁体标准样品的要求，删除了“符合GB/T 4077中的有关规定”，将对闪烁体标准样品尺寸的要求作为一个新增的资料性附录(见附录B，2002版的)；

d) 修改了部分测量方法中的一些表述或公式错误(见、和，2002版的、和第6章)；

e) 增加了“封装闪烁体的光输出”和“[闪烁体光输出的]不均匀性”的测量方法(见和)；

f) 增加了“相对能量转换效率”的脉冲法测量方法(见 )和“α-β比”的测量方法(见)；

g) 增加了 “封装闪烁体的固有幅度分辨率” 的测量方法(见)；

h) 增加了“余辉”和“符合分辨时间”的测量方法(见和)；

i) 增加了 “辐照硬度” 的测量方法(见第11章)；

j) 增加了 “自身辐射本底” 的测量方法(见第12章)；

k) 增加了 “β-γ比和n-γ比” 的测量方法(见第13章)；

l) 增加了 “[闪烁体阵列的]不均匀性和光串扰” 的测量方法(见第15章)。

本文件描述了闪烁体的相对光输出、不均匀性、相对能量转换效率、α-β比、固有幅度分辨率、闪烁衰减长度、发射光谱、时间特性、辐照硬度、自身辐射本底、β-γ比、n-γ比、温度效应以及 [闪烁体阵列的]不均匀性和光串扰等的测量方法。

本文件适用于常用的各种闪烁体的性能测量。(更多详情请见附件)

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